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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用x射線熒光光譜法測量銀和銀合金鍍覆層厚度的方法。它是’一種非接觸式的無損測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于銀和銀合金鍍覆層厚度的測量,也適用于常用金屬鍍覆層厚度的測量。該方法還可同時(shí)測量出表面鍍覆層和中間層的厚度。