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銀和銀合金鍍覆層厚度測量方法 X射線熒光光譜法

標 準 號: SJ 20147.1-1992
替代情況:
發(fā)布單位: 中國電子工業(yè)總公司
起草單位: 中國華晶電子集團公司等單位
發(fā)布日期: 1992-11-19
實施日期: 1993-05-01
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更新日期: 2025年06月23日
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內容摘要

本標準規(guī)定了用x射線熒光光譜法測量銀和銀合金鍍覆層厚度的方法。它是’一種非接觸式的無損測量方法。本標準適用于銀和銀合金鍍覆層厚度的測量,也適用于常用金屬鍍覆層厚度的測量。該方法還可同時測量出表面鍍覆層和中間層的厚度。

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