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銀和銀合金鍍覆層測(cè)試方法 殘留鹽分的測(cè)定

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ 20147.2-1992
替代情況：
發(fā)布單位： 中國(guó)電子工業(yè)總公司
起草單位： 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布日期： 1992-11-19
實(shí)施日期： 1993-05-01
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更新日期： 2025年06月23日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了銀和銀合金電鍍層的殘留鹽分測(cè)定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于銀和銀合金電鍍層的金屬和非金屬試件。

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