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低溫下晶體透射率的試驗方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 16864-1997
替代情況：
發(fā)布單位： 國家技術(shù)監(jiān)督局
起草單位： 中國科學(xué)院物理研究所
發(fā)布日期： 1997-06-16
實施日期： 1997-12-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年09月10日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫下(300K~20K),波長在紫外-近紅外的晶體透射率的試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體透射率的測試。

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