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金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 15653-1995
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
起草單位: 電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布日期: 1995-07-24
實(shí)施日期: 1996-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2025年09月07日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏件性能參數(shù)測(cè)試方法的基本原理,沒(méi)有規(guī)定這些方法在實(shí)際使用時(shí)的技術(shù)細(xì)節(jié),測(cè)試時(shí)可按相應(yīng)的詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定進(jìn)行。本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏件性能參數(shù)的測(cè)試,其他氣敏件亦可參照使用。

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