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半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測(cè)試方法的基本原理

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 14032-1992
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
起草單位： 上海件五廠
發(fā)布日期： 1992-01-02
實(shí)施日期： 1993-08-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年09月04日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。

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