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激光用非線(xiàn)性光學(xué)晶體元件性能測(cè)量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 22453-2025
替代情況: 替代 GB/T 22453-2008
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 江西省檢驗(yàn)檢測(cè)認(rèn)證總院工業(yè)產(chǎn)品檢驗(yàn)檢測(cè)院、北京雷生強(qiáng)式科技有限責(zé)任公司、成都東駿激光股份有限公司等
發(fā)布日期: 2025-04-25
實(shí)施日期: 2025-08-01
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更新日期: 2025年07月27日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了非線(xiàn)性光學(xué)晶體元件測(cè)試條件,描述了相應(yīng)的測(cè)試方法,規(guī)定了測(cè)試報(bào)告內(nèi)容的要求。
本文件適用于低溫相偏硼酸鋇(β-BaB2O4,簡(jiǎn)稱(chēng)BBO)、三硼酸鋰(LiB3O5,簡(jiǎn)稱(chēng)LBO)、磷酸二氫鉀(KH2PO4,簡(jiǎn)稱(chēng)KDP)、磷酸鈦氧鉀(KTiOPO4,簡(jiǎn)稱(chēng)KTP)、鈮酸鋰(LiNbO3,簡(jiǎn)稱(chēng)LN)、硫鎵銀(AgGaS2,簡(jiǎn)稱(chēng)AGS)、碘酸鉀(KIO3)的測(cè)量活動(dòng)。其他非線(xiàn)性光學(xué)晶體元件的測(cè)量活動(dòng)參照使用。

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