本文件規(guī)定了集成電路（IC）對標準傳導電瞬態(tài)騷擾的抗擾度測量方法。與受試器件（DUT）運行不同步的騷擾通過耦合網(wǎng)絡施加給IC引腳。
不管電瞬態(tài)騷擾是否在IC規(guī)定的工作電壓范圍之內，本方法都能夠得到傳導電瞬態(tài)騷擾和其引起的IC性能降級之間的相互關系并對其進行分類。