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半導體器件 集成電路 第20部分:膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范 第一篇:內部目檢要求

標 準 號: GB/T 43035-2023
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 中國電子科技集團公司第四十三研究所、中國電子技術標準化研究院
發(fā)布日期: 2023-09-07
實施日期: 2023-09-07
點 擊 數:
更新日期: 2023年12月22日
內容摘要

本文件的目的是檢查膜集成電路和混合膜集成電路內部的材料、結構和制造工藝。通常在封帽或包封前進行該項檢驗,從而找出并剔除帶有內部缺陷的器件。這種缺陷會導致器件在正常應用中失效。其他的驗收準則應與購買商或供應商商定。

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