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半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導(dǎo)體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路）

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 19403.1-2003
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
起草單位： 信息產(chǎn)業(yè)部第四研究所
發(fā)布日期： 2003-11-24
實(shí)施日期： 2004-08-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2021年12月02日
內(nèi)容摘要

本部分為GB/T19403的一部分，等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC60748-11-1：1992《半導(dǎo)體器件集成電路第11部分：第1節(jié)：半導(dǎo)體集成電路內(nèi)部目檢》。

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