本部分規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定泊驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。