本部分規(guī)定了用微型磁場探頭以非接觸的電流測量方式來測量集成電路（IC）的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz頻率范圍內(nèi)測量由IC產(chǎn)生的射頻電流。本部分適用于單個IC的測量或者用于標準測試板上的IC芯片組的描述和比較。