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光致發(fā)光法測定磷鎵砷晶片的組分

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ/T 11492-2015
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期： 2015-04-30
實施日期： 2015-10-01
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更新日期： 2021年04月09日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用光致發(fā)光測試系統(tǒng)對表面經(jīng)過處理的磷鎵砷（GaAs1-xPx）晶片組分進(jìn)行測試的方法。

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