光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第52部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗(yàn)程序溫度循環(huán)

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 15972.52-2008

替代情況：替代 GB/T 15972.5-1998

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

起草單位：武漢郵電科學(xué)研究院

發(fā)布日期： 2008-03-31

實(shí)施日期： 2008-11-01

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更新日期： 2019年11月18日

內(nèi)容摘要

本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第５２部分。，本部分根據(jù)ＩＥＣ６０７９３-１-５２：２００１重新起草。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了評估光纖在給定環(huán)境中溫度變化性能的測量方法和試驗(yàn)程序。適用于確定A1類多模光纖和B類光纖在實(shí)際應(yīng)用、貯存或運(yùn)輸過程中可能發(fā)生的溫度變化環(huán)境條件下的適應(yīng)性能。本部分與ＩＥＣ６０７９３-１-５２：２００１主要差異如下：
———適用范圍由Ａ１ａ至Ａ１ｄ類光纖改為Ａ１類光纖，Ｂ１至Ｂ４類光纖改為Ｂ類光纖；
———最小彎曲直徑１５０ｍｍ改為繞圈直徑應(yīng)大于１５０ｍｍ；
———在進(jìn)行基準(zhǔn)測量前應(yīng)使試驗(yàn)箱和試樣穩(wěn)定在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下改為穩(wěn)定在ＩＥＣ６０７９３-１-１：２００２規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下；
———在試驗(yàn)前后要對光纖涂覆層平均剝離力進(jìn)行測量改為對光纖涂覆層剝離力進(jìn)行測量；
———糾正了某些不恰當(dāng)?shù)臄⑹觥?/p>