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光纖試驗方法規(guī)范 第53部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序 浸水

標 準 號: GB/T 15972.53-2008
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 武漢郵電科學研究院
發(fā)布日期: 2008-03-31
實施日期: 2008-11-01
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更新日期: 2019年11月18日
內容摘要

本部分為GB/T15972的第53部分。本標準規(guī)定了評估光纖在給定環(huán)境中浸水性能的測量方法和試驗程序。適用于確定A1類多模光纖和B類單模光纖在實際應用、貯存和運輸過程中可能發(fā)生的浸泡在蒸餾水或軟化水環(huán)境條件下的適應性能。本部分與IEC60793-1-53:2001主要差異如下:
———適用范圍由A1a類至A1d類光纖改為A1類光纖,B1類至B4類光纖改為B類光纖;
———最小彎曲直徑150mm 改為繞圈直徑應大于150mm;
———在試驗前后要對光纖涂覆層平均剝離力進行測量改為對光纖涂覆層剝離力進行測量;
———試樣應在規(guī)定的標準大氣條件下恢復12h以上改為應在GB/T15972.10—2008規(guī)定的標準大氣條件下恢復12h以上。

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