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表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜分析方法通則

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 19500-2025
替代情況： 替代 GB/T 19500-2004
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 北京大學(xué)、清華大學(xué)、北京師范大學(xué)、中國科學(xué)院化學(xué)研究所、中國科學(xué)院物理研 究所
發(fā)布日期： 2025-06-30
實(shí)施日期： 2026-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年07月31日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了X射線光電子能譜(XPS)的一般表面分析方法的通用要求。

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