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酸浸取 原子吸收光譜法測(cè)定多晶硅表面金屬污染物

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 24579-2009
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心、中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所
發(fā)布日期: 2009-10-30
實(shí)施日期: 2010-06-01
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更新日期: 2025年03月11日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用酸從多晶硅塊表面浸取金屬雜質(zhì),并用石墨爐原子吸收定量檢測(cè)多晶硅塊表面上的痕量金屬雜質(zhì)分析方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于堿金屬、堿土金屬和第一系列過渡元素如鈉、鋁、鐵、鉻、鎳、鋅的檢測(cè)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種棒、塊、粒、鋉片形多晶或單晶硅表面金屬污染物的檢測(cè)。由于塊、片或粒形狀不規(guī)則,面積很難準(zhǔn)確測(cè)定,根據(jù)樣品重量計(jì)算結(jié)果。

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