本標準規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標準采用的計算方法是近似函數(shù)法。
本標準適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應(yīng)變一般不大于0.1%的納米材料。
鋁和鋁合金化學(xué)轉(zhuǎn)化膜規(guī)范鉬銅合金棒規(guī)范鋁產(chǎn)品用粉末涂料水合三氯化銥銅合金連鑄管高純鈦化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含…鋁加工檢驗、測量和試驗設(shè)備配備規(guī)范硝酸鈀
