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鋁土礦石化學(xué)分析方法 第23部分:X射線熒光光譜法測定元素含量

標(biāo) 準(zhǔn) 號: YS/T 575.23-2009
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國鋁業(yè)股份有限公司鄭州研究院、中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計量質(zhì)量研究所
發(fā)布日期: 2009-12-04
實(shí)施日期: 2010-06-01
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更新日期: 2019年11月11日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線熒光光譜法測定鋁土礦石中元素含量的方法。
本部分適用于鋁土礦石中三氧化二鋁、二氧化硅、全鐵(以Fe2O3表示)、二氧化鈦、氧化鉀、氧化鈉、氧化鈣、氧化鎂、五氧化二磷、氧化錳、硫、 釩、鎵和鋅等的測定。也適用于粘土、高嶺土等樣品上述成分的測定。

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