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碲鎘汞晶體X值的X-射線熒光法測定方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ 20719-1998
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位： 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布日期： 1998-03-18
實施日期： 1998-05-01
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更新日期： 2025年04月29日
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內(nèi)容摘要

本規(guī)范規(guī)定了用X-射線熒光法測定碲鎘汞晶片的組分X值。本規(guī)范適用于X值在0.100~0.350mol范圍內(nèi)的碲鎘汞晶片組分X值定量測定。

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