本標(biāo)準(zhǔn)適用于ＰＯＳＩＸ 標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試方法的開(kāi)發(fā)和使用，也適用于其他應(yīng)用編程接口規(guī)范的開(kāi)發(fā)和使用。 本標(biāo)準(zhǔn)旨在供測(cè)試方法規(guī)范和測(cè)試方法實(shí)施的開(kāi)發(fā)者和使用者使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１７５４８—１９９８，與１９９８版標(biāo)準(zhǔn)相比，本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生了如下的主要變化：
———標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)改為“ＰＯＳＩＸ 標(biāo)準(zhǔn)符合性的測(cè)試方法規(guī)范和測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)的要求和指南”；
———引用標(biāo)準(zhǔn)中由軟件工程術(shù)語(yǔ)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)ＧＢ／Ｔ１１４５７—２００６代替了原文中的ＩＥＥＥＳｔｄ７２９，其他引用標(biāo)準(zhǔn)均改為對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；
———增加了斷言的類(lèi)型，并對(duì)每種斷言類(lèi)型從結(jié)構(gòu)、語(yǔ)法等方面進(jìn)行了介紹；
———增加了測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)和測(cè)試方法規(guī)范對(duì)測(cè)試結(jié)果代碼的要求描述；
———增加了輪廓測(cè)試方法和宏方面的內(nèi)容；
———增加了用Ｃ 語(yǔ)言和Ａｄａ語(yǔ)言編寫(xiě)斷言的示例。