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基于低頻噪聲參數(shù)的電子元器件可靠性評價方法 第1部分:通用要求

標(biāo) 準(zhǔn) 號: SJ/T 11845.1-2022
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 等
發(fā)布日期: 2022-09-30
實施日期: 2023-01-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2023年10月23日
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內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了基于低頻噪聲參數(shù)的電子元器件可靠性評價方法的通用要求,為具體電子元器件可靠性的低頻噪聲評價方法標(biāo)準(zhǔn)的制定和實施提供指導(dǎo)。
本文件適用于在電子元器件生產(chǎn)過程中及使用前對元器件可靠性進(jìn)行評價,由研制生產(chǎn)企業(yè)、用戶或其它相應(yīng)檢測機(jī)構(gòu)實施。

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