本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第３２部分，本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８《光纖總規(guī)范　第３部分：機械性能試驗方法》中第１１章。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了沿光纖縱軸向定量地機械剝?nèi)ケＷo(hù)涂覆層所需的力的試驗方法，確立了測量的統(tǒng)一試驗程序和技術(shù)要求。本部分適用于Ａ１類、Ａ２類、Ａ３類和Ｂ類具有標(biāo)稱外直徑為２５０μｍ～９００μｍ 范圍內(nèi)的聚合物作外被覆層的光纖的測量。本部分不適用于實際直徑２３０μｍ～９３０μｍ 范圍之外的聚合物作外被覆層的光纖。 本部分與ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８第１１章相比主要變化如下：
———將標(biāo)稱涂覆直徑為２５０μｍ 光纖的剝離長度可取值２０ｍｍ３０ｍｍ 或５０ｍｍ 改為可取的值為３０ｍｍ 或５０ｍｍ（１９９８年版的１１．３．２，本版的５．２）；
———試驗標(biāo)準(zhǔn)大氣條件改為：溫度２３℃±５℃；相對濕度４５％±２５％（１９９８年版的１１．４．２，本版的３．３）。