本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用 X 射線輻射儀（光子平均能量約 10keV，最大光子能量不超過100keV）對半導(dǎo)體器件和電路進行電離輻射效應(yīng)試驗的方法和程序。適用于半導(dǎo)體器件的總劑量電離輻照評估試驗。