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半導(dǎo)體紅外發(fā)射二極管測量方法 第1部分：總則

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ/T 2658.1-2015
替代情況： 替代 SJ/T 2658.1-1986
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院等
發(fā)布日期： 2015-10-10
實施日期： 2016-04-01
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更新日期： 2019年01月07日
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內(nèi)容摘要

規(guī)定了對半導(dǎo)體紅外發(fā)射二極管進行光電參數(shù)測量的一般要求，包括測試儀表的誤差范圍、電源的性能要求以及測試環(huán)境條件。

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