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半導體紅外發(fā)射二極管測量方法 第9部分：輻射強度空間分布和半強度角

標 準 號： SJ/T 2658.9-2015
替代情況： 替代 SJ/T 2658.9-1986
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 電子工業(yè)標準化研究院等
發(fā)布日期： 2015-10-10
實施日期： 2016-04-01
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更新日期： 2019年01月07日
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內容摘要

規(guī)定了半導體紅外發(fā)射二極管輻射強度空間分布和半強度角的測量原理圖、測量步驟以及規(guī)定條件。

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