本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了發(fā)光二極管芯片光參數(shù)、直流電參數(shù)以及靜電放電敏感性的點(diǎn)測(cè)條件和點(diǎn)測(cè)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于批量生產(chǎn)的可見光發(fā)光二極管正裝芯片和薄膜芯片的檢測(cè)方法。紫外光、紅外光發(fā)光二極管芯片以及外延片的點(diǎn)測(cè)也可參照使用。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于發(fā)光二極管芯片的熱參數(shù)和交流特性測(cè)試。