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半導體集成電路 快閃存儲器測試方法

標 準 號： GB/T 36477-2018
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局
起草單位： 中國電子技術標準化研究院等
發(fā)布日期： 2018-06-07
實施日期： 2019-01-01
點 擊 數：
更新日期： 2018年09月04日
內容摘要

本標準規(guī)定了半導體集成電路快閃存儲器電參數、時間參數和儲存單元功能測試的基本方法。

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