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半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 14028-2018
替代情況: 替代 GB/T 14028-1992
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國(guó)航天科技集團(tuán)公司
發(fā)布日期: 2018-03-15
實(shí)施日期: 2018-08-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2018年05月24日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了雙極、MOS、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)(以下稱(chēng)為器件)參數(shù)測(cè)試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān),也適用于多路轉(zhuǎn)換器參數(shù)的測(cè)試。

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