GB/T 17626的本部分涉及電子和/或電氣設備的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的測量，規(guī)定了在全電波暗室（FAR）內(nèi)進行的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的試驗程序。?
注：依據(jù)GB/Z 18509，本部分是供相關產(chǎn)品委員會使用的電磁兼容基礎標準，如導則GB/Z 18509所述，產(chǎn)品委員會負責確定對其EMC產(chǎn)品類標準的適用性，TC 77/SAC/TC 246、CISPR/SAC/TC 79及其分委員會（例如，SAC/SC 7）已準備好與產(chǎn)品委員會在標準制定和修訂的合作中一起來確定特定EMC試驗在具體產(chǎn)品中的作用。?
本部分規(guī)定了在同一個全電波暗室進行輻射發(fā)射測量與輻射抗擾度試驗時的通用確認程序、受試設備（EUT）的試驗布置要求以及全電波暗室測量方法（詳見附錄A和附錄B）。?
作為電磁兼容基礎測量標準，本部分對應用于具體裝置或系統(tǒng)的抗擾度試驗電平或發(fā)射限值不做具體規(guī)定，其主要目標是為國內(nèi)相關產(chǎn)品委員會提供常規(guī)測量程序，而針對產(chǎn)品的具體要求和試驗條件由相應的產(chǎn)品委員會來規(guī)定。?
本部分的方法適用于30 MHz～18 GHz頻率范圍內(nèi)的輻射發(fā)射和抗擾度測量。