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帶電粒子半導(dǎo)體探測器測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 5201-2012
替代情況: 替代 GB/T 5201-1994
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 中核(北京)核儀器廠
發(fā)布日期: 2012-06-29
實施日期: 2012-11-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年01月09日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了帶電粒子半導(dǎo)體探測器的電特性和核輻射性能的測量方法以及某些特殊環(huán)境的試驗方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶電粒子部分耗盡層的半導(dǎo)體探測器。
全耗盡型半導(dǎo)體探測器的測量可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

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