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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 2423.1-2008
替代情況: 替代 GB/T 2423.1-2001
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 廣州電器科學(xué)研究院
發(fā)布日期: 2009-10-01
實施日期: 2009-10-01
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更新日期: 2020年10月11日
內(nèi)容摘要

本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。
本部分代替GB/T 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》,與之相比,主要變化如下:
——刪除了試驗Aa:非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗;
——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E;
——增加了試驗Ae:散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗——試驗樣品在整個試驗過程通電。

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