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表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜-荷電控制和荷電校正方法的報告

標 準 號： GB/T 25185-2010
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 北京師范大學(xué)分析測試中心
發(fā)布日期： 2010-09-26
實施日期： 2011-08-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2020年05月10日
內(nèi)容摘要

本標準以最少量的資料描述了用X射線光電子能譜測量絕緣樣品內(nèi)能級結(jié)合能,及將在報告其分析結(jié)果時所采用的荷電控制和荷電校正方法,也給出了在結(jié)合能測量過程中對于荷電控制和荷電校正有用的方法資料。

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